GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)

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GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试  人体模型(HBM)

标准详情与信息

标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)

标准号:GB/T 4937.26-2023

发布日期:2023-09-07

实施日期:2024-04-01

管理部门:工业和信息化部(电子)。

行业分类:电子学

半导体器件的ESD测试从本测试方法、机器模型(MM)测试方法(见IEC 60749-27)或IEC 60749(所有部分)中的其他ESD测试方法中选择。除另有规定外,本测试方法为所选方法。

起草单位与起草人

起草单位包含:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、捷捷半导体有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。

起草人包含:高蕾 、张魁 、鲁世斌 、迟雷 、翟玉颖 、彭浩 、高金环 、张瑞霞 、黄杰 、赵鹏 、徐昕 、魏兵 、黎重林 、颜天宝 、金哲 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。