标准详情与信息
标准名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
标准号：GB/T 36477-2018
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
管理部门：工业和信息化部（电子）。
行业分类：电子学
此标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。
起草人包含：菅端端 、陈大为 、钟明琛 、罗晓羽 、冯光涛 、倪昊 、赵子鉴 、董艺 、田万廷 、高硕 、闵昊 、刘刚 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。