标准详情与信息
标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
标准号：GB/T 35007-2018
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
管理部门：工业和信息化部（电子）。
行业分类：电子学
此标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所。
起草人包含：陈雁 、罗彬 、郭超 、王会影 、李锟 、蔡志刚 、邬海忠 、钟科 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。