GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

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GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

标准详情与信息

标准名称:硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法

标准号:GB/T 24574-2009

发布日期:2009-10-30

实施日期:2010-06-01

管理部门:国家标准化管理委员会

行业分类:电气工程

起草单位与起草人

起草单位包含:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。

起草人包含:李静 、何秀坤 、蔺娴 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。