GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

标准详情与信息

标准名称：低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

标准号：GB/T 24581-2009

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

管理部门：国家标准化管理委员会

行业分类：电气工程

起草单位与起草人

起草单位包含：四川新光硅业科技有限责任公司。

起草人包含：梁洪 、过惠芬 、吴道荣 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。