YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准详情与信息

标准名称：非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准号：YS/T 679-2008

发布日期：2008-03-12

实施日期：2008-09-01

管理部门：发改委

行业分类：

起草单位与起草人

起草单位包含：有研半导体材料股份有限公司

起草人：孙燕、卢立延 等

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。