GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

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GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

标准详情与信息

标准名称:纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

标准号:GB/T 33657-2017

发布日期:2017-05-12

实施日期:2017-12-01

管理部门:中国科学院。

行业分类:电子学

此标准不适用于包含外围驱动电路的存储单元。

起草单位与起草人

起草单位包含:中国科学院上海微系统与信息技术研究所。

起草人包含:陈一峰 、陈小刚 、宋志棠 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。