GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

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GB/T 32495-2016 表面化学分析  二次离子质谱  硅中砷的深度剖析方法

标准详情与信息

标准名称:表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

标准号:GB/T 32495-2016

发布日期:2016-02-24

实施日期:2017-01-01

管理部门:国家标准化管理委员会

行业分类:化工技术

起草单位与起草人

起草单位包含:中国电子科技集团公司第四十六研究所。

起草人包含:马农农 、陈潇 、何友琴 、王东雪 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。