DB13/T 5696-2023 基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法

标准详情与信息

标准名称：基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法

标准号：DB13/T 5696-2023

发布日期：2023-05-06

实施日期：2023-06-06

行业分类：

起草单位与起草人

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